掃查面盲區(qū)高度測定試塊無損檢測超聲波試塊

一、該類試塊依據(jù)掃查面盲區(qū)高度測定試塊的要求而設(shè)計.適用于測定初始掃查面的盲區(qū)高度.該類試塊依據(jù)掃查面盲區(qū)高度測定試塊的要求而設(shè)計.適用于測定初始掃查面的盲區(qū)高度.

二、NB/T 47013.10-2015標(biāo)準(zhǔn)《承壓設(shè)備無損檢測 第10部分：衍射時差法超聲檢測》中提出了對盲區(qū)的控制要求，并規(guī)定了采用掃查面盲區(qū)試塊。華電鄭州機械設(shè)計研究院有限公司/鄭州國電機械設(shè)計研究所有限公司的檢測人員提出了一種新型的TOFD技術(shù)掃查面盲區(qū)對比試塊，該試塊可為制定檢測工藝時確定掃查面盲區(qū)提供準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)支撐。下面就讓我們來詳細(xì)了解一下吧。

TOFD技術(shù)的掃查面盲區(qū)特征

TOFD檢測技術(shù)采用探頭對一發(fā)一收的放置方法來控制發(fā)射短脈沖，通過計算遇到缺陷轉(zhuǎn)變的衍射信號到達(dá)時間來分析缺陷的位置及大小。受信號脈沖寬度的限制，近表面缺陷的端點衍射波與直通波發(fā)生重疊，形成掃查面盲區(qū)，導(dǎo)致缺陷定位困難。盲區(qū)深度為d，聲速為c，探頭中心距為2S，直通波的傳輸時間TL=2S/c，直通波脈沖時間寬度Tp可從振幅的10%處截取得到，一般情況下取直通波兩倍周期，則盲區(qū)的深度d可按下式算出：

目前，通過優(yōu)化檢測參數(shù)(減小探頭中心距、提高探頭頻率等)來控制掃查面盲區(qū)，但上述參數(shù)無論怎樣調(diào)節(jié)都無法使盲區(qū)減小到可忽略的程度。由于掃查面盲區(qū)較大，實際檢測時需要采取其他有效措施解決掃查面盲區(qū)內(nèi)缺陷漏檢的問題。

三、掃查面盲區(qū)對比試塊

NB/T 47013.10-2015標(biāo)準(zhǔn)要求使用掃查面盲區(qū)高度測定試塊來確定初始掃查面盲區(qū)的高度。

該試塊上有距離掃查面不同深度、不同長度的8個Φ2mm橫孔，從標(biāo)準(zhǔn)中可以看出對試塊加工工藝有很高的要求，這些橫孔孔徑較小且長度較長。

四、新型TOFD掃查面盲區(qū)對比試塊

設(shè)計的新型TOFD掃查面盲區(qū)對比試塊采用深度連續(xù)變化的矩形槽(見圖1)。該試塊所用材料需經(jīng)過MT(磁粉檢測)、UT(超聲檢測)、PAUT(相控陣超聲檢測)等方法嚴(yán)格檢測，試塊聲束通過區(qū)不得有大于等于Φ2mm的平底孔當(dāng)量的缺陷存在。試塊采用電火花數(shù)控線切割機床加工而成，加工工藝簡單，成本較低，數(shù)控加工精度可控，可以滿足現(xiàn)場檢測對比驗證的需要。有條件的情況下，可以在試塊上表面刻上長度，并計算出對應(yīng)長度位置處盲區(qū)的高度。

掃查面盲區(qū)高度測定試塊無損檢測超聲波試塊